設(shè)計(jì)缺陷對檢驗(yàn)檢測的影響
2020-05-19 12:01:49
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設(shè)計(jì)缺乏可檢測性造成檢測困難
元器件間距過小。
較高元器件附近未留足空間，飛針等設(shè)備無法操作。
測試點(diǎn)隱藏或遮蔽（如測試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部）而無法接觸電測試點(diǎn)。測試點(diǎn)尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。
